QuaNix涂鍍層測(cè)厚儀4200 是由德國(guó)尼克斯生產(chǎn)推出的，所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提

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更新時(shí)間：2025-06-04
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涂層測(cè)厚儀

菲希爾MPO膜厚儀

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QuaNix涂鍍層測(cè)厚儀4200，QuaNix涂鍍層測(cè)厚儀4200

零位穩(wěn)定：

QuaNix涂鍍層測(cè)厚儀4200是由德國(guó)尼克斯生產(chǎn)推出的，所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。
QuaNix4200德國(guó)尼克斯涂鍍層測(cè)厚儀/4200測(cè)厚儀無(wú)需校準(zhǔn)：

多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。

溫度補(bǔ)償：

涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。

紅寶石探頭：

探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。

*的直流采樣技術(shù)：

使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。

單探頭量程大：0－5mm

QuaNix4200德國(guó)尼克斯涂鍍層測(cè)厚儀/4200測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):

QuaNix技術(shù)參數(shù)
型號(hào)	4200	4500		1200	1200		7500		keyless
基體	Fe	Fe/NFe		Fe	Fe/NFe		Fe、NFe、Fe/NFe		Fe/NFe
探頭形式	一體						一體、分體		無(wú)線分體
顯示	LCD數(shù)字顯示
測(cè)量范圍	0－3000μm	Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm		0－2000μm	0－5000μm		0－2000μm 0－5000μm		0－5000μm
測(cè)量精度	0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%
顯示精度	1μm		0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作溫度	－10 －＋60℃
溫度補(bǔ)償	0－50℃
存儲(chǔ)	－		1500M型				7500M型		keylessM型
			3900個(gè)測(cè)量值，999個(gè)數(shù)據(jù)組
數(shù)據(jù)傳輸	－		RS232打印、電腦
統(tǒng)計(jì)功能	－		平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差
超限報(bào)警	－								上下限
zui小基體	10mm×10mm
zui小曲率	凸、凹半徑：3mm/25mm		凸半徑：5mm，凹半徑：25mm
zui薄基體	Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
電源	5號(hào)電池2節(jié)		9V堿性電池1節(jié)					5號(hào)電池2節(jié)
重量	110g		130g			150g		130g
尺寸	110×60×27mm		166×64×34mm			110×60×24mm		110×62×22mm

QuaNix4200德國(guó)尼克斯涂鍍層測(cè)厚儀4200測(cè)厚儀雙功能用途：
1. 測(cè)量鋼、鐵等鐵磁性（Fe）金屬基體上的非磁性涂鍍層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘等
2.測(cè)量銅、鋁、不銹鋼等非鐵磁性（NFe）基體上的所有非導(dǎo)電層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、氧化層等。

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QuaNix涂鍍層測(cè)厚儀4200 是由德國(guó)尼克斯生產(chǎn)推出的， 所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提

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